• omega-slider-01.jpg
  • omega-slider-02.jpg
  • omega-slider-03.jpg
  • omega-slider-04.jpg
  • omega-slider-05.jpg
  • omega-slider-06.jpg
  • omega-slider-7.jpg

Системы управления производственными процессами, разработанные и поставленные нашей компанией.

Программа управления комплексом роста кристаллов

  • построение архитектуры клиент-сервер
  • масштабирование на несколько установок
  • удаленный доступ к системе
  • настройка множества событий ошибки и остановки процесса
  • настройка множества предупреждений
  • формирование программы роста кристалла

Система контроля примесей в воде

  • Измерение температуры с точность 0.001 C
  • Поддержание нагрева и охлаждения по программе
  • ПО для отображения и сохранения данных
  • температурная стабильность

Система управление стойкой ЭМ-584

  • Система предназначена для управление установкой проекционной фотолитографии
  • Разработана программа и устройство сопряжения
  • Программа позволила работать со старой стойкой управления
  • Графическое формирование задания

Система контроля процесса напыления титана

  • время регистрации информации до 24 часов
  • высокоточные входы
  • измерение токов и напряжения
  • защита от помех
  • подключение через USB
  • Программа управления блоком
    • изменение всех параметров эксперимента
    • автоматическая запись результатов в БД
    • сортировка результатов в БД
    • восстановление результатов эксперимента с параметрами

Система измерения ВАХ приборов

  • 4 независимых канала
  • диапазон напряжений -14 ... +14 В
  • диапазон токов -100 ... +100 mA, -1 ... +1 mA
  • защита от КЗ
  • каналы работают в режиме источника напряжения/тока
  • подключение через USB
  • Программа управления прибором
    • изменение всех параметров эксперимента
    • автоматическая запись результатов в БД
    • сортировка результатов в БД
    • восстановление результатов эксперимента с параметрами
    • режим измерения ВАХ характеристики
    • режим измерения ван-дер-пау

Координатная система управления стола ЭМ-584

  • программная реализация всех алгоритмов
  • применены блоки ЦАП и АЦП на шине PCI
  • стабилизация по X,Y,A
  • точность позиционирования +- 0.062 um
  • перемещение в пределах 0...150 mm
  • управление системой через RS-232
  • В штатной стойке управления убран верхний ряд блоков замененный одним IBM-PC

Система измерения C-V/С-t характеристик МДП структур

  • диапазон емкостей 0...2000 пФ
  • зондирующий сигнал ~ 1 MHz, 20 мВ
  • два независимых канала смещения -14 ... +14 В
  • автоматическая калибровка измерительного канала
  • методика измерения C-V/C-t характеристик МДП структур
  • подключение через USB
  • Программа управления прибором
    • изменение всех параметров эксперимента
    • автоматическая запись результатов в БД
    • сортировка результатов в БД
    • восстановление результатов эксперимента с параметрами
    • режим измерения C-V характеристики
    • режим измерения C-t характеристики

Система контроля процесса реактивного ионного травления

  • адаптирована для Alcatel GIR200
  • точное измерение толщины на основе интерферометра
  • измерение характеристик процесса РИТ
  • автоматическая остановка процесса
  • калибровка толщины верхнего слоя
  • автоматическое сохранение всех измерений
  • специальное ПО для обработки результатов